便携式焦平面测试系统
本设备为新型光电材料(如量子点、钙钛矿、二维材料等)焦平面阵列的性能表征而设计测量,光谱范围覆盖紫外和红外,通过配置器件的供电、时序、使能端口、通讯端口等,可实现对模拟型、数字型成像读出电路的精确控制及信号采集进而验证器件性能参数指标。器件可以适配芯片、探测器和微杜瓦,适配的电路规格有640*512、1280*1024、320*256。它集数据采集、图像重构与可视化分析于一体,可精准调控曝光时间,GPOL等关键参数,实时输出响应率、NETD、盲元分布等核心数据,一键可切换主机模式与便携模式,为科研论证与论文发表提供强有力的量化支撑,是前沿材料成像研究的理想测试平台。数据报告有原始数据、成像出图和性能测试数据等。
1.双模便携设计 2.全材料芯片适配 3.一键式智能测评 4.专业图像处理引擎 5.快速部署与定制